基于边界扫描技术和Tcl语言的DualSRAM测试设计

基于边界扫描技术和Tcl语言的DualSRAM测试设计

集成电路(IC)的迅猛发展促进了测试技术的研究和发展,支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,使得边界扫描测试技术日益被重视.Tcl语言是一种简明、高效、移植性强的语言,它与边界扫描技术的结合,扩展了芯片测试技术的应用,使得IC的测试更加灵活.本文以DualSRAM的测试设计为例,介绍了以边界扫描技术为基础的Tcl语言的应用,同时根据测试开发中遇到的问题,提出了一些可测性设计(DFT)的建议.

作 者： 王凤驰 胡丙华 Wang Fengchi Hu Binghua   作者单位： 中国电子科技集团电子第三十八研究所,安徽合肥,230031  刊 名： 电子测试  英文刊名： ELECTRONIC TEST  年，卷(期)： 2009 ""(6)  分类号： PT312  关键词： 边界扫描   Tcl语言   DualSRAM测试   DFT  

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