JTAG测试中扫描链的配置问题研究

JTAG测试中扫描链的配置问题研究

分析了常见扫描链路配置中面临的问题,提出了一种扫描链配置方案.结合工程测试中出现的实际问题,给出了有关扫描链路配置的一些建议和注意事项.

作 者： 张磊 于晓辉 刘冲 ZHANG Lei YU Xiaohui LIU Chong   作者单位： 张磊,于晓辉,ZHANG Lei,YU Xiaohui(海军驻洛阳地区航空军代表室,河南,洛阳,471009)

刘冲,LIU Chong(中航工业洛阳电光设备研究所,河南,洛阳,471009) 

刊 名： 电光与控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2010 17(6)  分类号： V271.4  关键词： 集成电路   边界扫描   扫描链   测试  

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