利用薄膜量热计测量高功率Z箍缩软X射线总能量

利用薄膜量热计测量高功率Z箍缩软X射线总能量

介绍一种采用脉冲恒压电源驱动的镍薄膜量热计,研制了测量系统和镍薄膜探测器,对探测器的电阻-温度特性进行了实验标定,该量热计已成功应用于测量"强光一号"加速器高功率Z箍缩等离子体软X射线总能量,分析了测量不确定度.

作 者： 王文生 何多慧 邱爱慈 蒯斌 罗建辉   作者单位： 王文生(中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,安徽,合肥,230026;西北核技术研究所,陕西,西安,710024)

何多慧(中国科学技术大学,国家同步辐射实验室,安徽,合肥,230026)

邱爱慈,蒯斌,罗建辉(西北核技术研究所,陕西,西安,710024) 

刊 名： 强激光与粒子束  ISTIC EI PKU 英文刊名： HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS  年，卷(期)： 2003 15(2)  分类号： O536 O434.12  关键词： 等离子体   Z箍缩   软X射线诊断   量热计  

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