微观应力和晶粒尺寸的X射线单峰傅立叶分析法

微观应力和晶粒尺寸的X射线单峰傅立叶分析法

研究了傅立叶分析法必然存在"hook"效应的原因,提出解决此效应的方法,进而利用假设函数的方法,把推理严谨的多峰傅立叶分析法简化成单峰分析法.此方法引入参数m,不但能指出误差大小,而且能自动修正误差.单峰傅立叶分析法是一种简单且高精度的测定微观应力和晶粒尺寸的方法.

作 者： 赵影 熊瑛 杨保和   作者单位： 赵影(天津理工学院自动化与能源工程学院)

熊瑛,杨保和(天津理工学院光电系,天津,300191) 

刊 名： 光电子·激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER  年，卷(期)： 2003 14(2)  分类号： O766+.3  关键词： X射线   Voigt函数   "hook"效应   微观应力   晶粒尺寸   单峰傅立叶分析法  

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