120 keVH+离子注入C60薄膜中的辐照效应

120 keVH+离子注入C60薄膜中的辐照效应

研究高能离子与C60晶体相互作用,是认识高能离子与凝聚态物理相互作用的基本规律和开发应用C60分子材料的基础,对实现C60分子掺杂以及这种材料开发应用都具有十分重要的意义.利用120 keVH+离子注入C60薄膜,系统研究不同注入剂量对C60薄膜结构的影响,用Raman散射技术分析了H+离子在C60薄膜中引起的辐照效应.分析结果表明,H+离子辐照会影响C60薄膜结构,使C60薄膜产生聚合和薄膜非晶碳化现象,上述现象产生与辐照注入离子的辐照剂量有关.在整个辐照过程中电子能损起主导作用,电子能损有明显的退火效应,致使C60由晶态向非晶态转变过程中,经历了一个石墨化的中间过程,即晶态C60分子→石墨化→非晶碳这一过程.

作 者： 朱圣星 姚江宏   作者单位： 朱圣星(重庆三峡学院,电子工程系,重庆,404000)

姚江宏(南开大学,物理科学院,南开,300071) 

刊 名： 重庆大学学报(自然科学版)  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF CHONGQING UNIVERSITY(NATURAL SCIECNE EDITION)  年，卷(期)： 2002 25(7)  分类号： O483  关键词： 辐照效应   C60薄膜   退火效应  

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