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通过SERS手段高灵敏度检测纯化的碳纳米管的Raman-D峰
本文采用"三明治"(滤膜/ 碳纳米管/ 银胶)SERS体系,对提纯后的碳纳米管样品进行缺陷检测.通过与其拉曼散射光谱进行比较,发现较平的缺陷峰D峰在SERS光谱中得到明显地增强,反应出多种碳杂质的信息.该方法使用样品量很少(5 μg),光谱信息比普通拉曼要丰富很多.该方法可用于高灵敏度的检测纯化后的样品的缺陷.
作 者： 李娜 方炎 LI Na FANG Yan 作者单位： 北京市纳米光电子重点实验室首都师范大学,北京,100037 刊 名： 光散射学报 ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIGHT SCATTERING 年，卷(期)： 2008 20(3) 分类号： O657.37 关键词： 碳纳米管 表面增强拉曼散射 Raman-D峰【通过SERS手段高灵敏度检测纯化的碳纳米管的Raman-D峰】相关文章：
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