面粉中滑石粉的X射线检验法

面粉中滑石粉的X射线检验法

采用X-射线衍射分析法检测面粉中滑石粉等有害物质,是利用矿物质与面粉的分子结构不同的特点,利用X射线衍射法快速确定面粉中含有的矿物质结构,直接检测滑石粉等有害物质结构.此方法具有快速、直接、准确的特点,有利于对大批量面粉中滑石粉等有害物质的快速检测.

作 者： 由健 刘成雁 林雪征   作者单位： 辽宁省分析科学研究院,辽宁·沈阳,110015  刊 名： 科协论坛(下半月)  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY ASSOCIATION FORUM  年，卷(期)： 2009 ""(1)  分类号： Q81  关键词： X-射线衍射   面粉   滑石粉  

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