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功能性聚酰亚胺薄膜的研制
通过原位聚合法,将纳米粒子Al2O3引入聚酰亚胺基体中,制备了具有不同Al2O3含量的Al2O3/PI杂化薄膜.研究结果表明:当Al2O3的质量分数小于10%时,杂化薄膜的拉伸强度和电击穿强度与纯薄膜相当;当Al2O3的质量分数为10%时,杂化薄膜的电老化寿命是纯薄膜的3.4倍,失重5%的温度比纯薄膜提高了42℃;随着Al2O3质量分数的增加,杂化薄膜的线膨胀系数呈下降趋势.
作 者： 胡爱军 吴俊涛 王德生 范琳 杨士勇 Hu Aijun Wu Juntao Wang Desheng Fan Lin Yang Shiyong 作者单位： 中国科学院化学研究所高技术材料实验室,北京,100080 刊 名： 宇航材料工艺 ISTIC PKU 英文刊名： AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2006 36(2) 分类号： V25 关键词： 原位聚合 耐电老化性 聚酰亚胺薄膜【功能性聚酰亚胺薄膜的研制】相关文章：
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