微电阻率成像仪数值模拟与分析

微电阻率成像仪数值模拟与分析

目前,很多油气田已经进入开发后期,勘探开发中常常遇到复杂的地层结构等问题,需要高分辨率的探测仪器,而阵列测井仪器在此方面得到了很好的应用.文章研究了用于复杂地层成像的微电阻率成像仪,在给出了成像仪电极系结构、电阻率测量原理之后,针对该仪器的复杂激励条件和复杂边界条件,采用三维有限元方法,利用双共轭梯度方法求解矩阵方程,进行非均匀介质中微电阻率成像仪的数值模拟.在成像仪所有的结构参数中,几何尺寸发生改变后,有可能影响测量结果的仪器参数包括金属芯棒的长度、绝缘棒的长度、回路电极的长度、极板的长度和宽度.相对而言,金属芯棒、绝缘棒和回路电极的长度对探测深度的影响较小,而极板的长度和宽度影响较大.最后,就这两个仪器结构参数对仪器探测深度的影响等问题进行了分析,并给出了不同几何尺寸条件下成像仪的探测深度结果.

作 者： 陈爱新 Chen Aixin   作者单位： 北京航空航天大学电子信息工程学院  刊 名： 天然气工业  ISTIC PKU 英文刊名： NATURAL GAS INDUSTRY  年，卷(期)： 2006 26(12)  分类号： P61  关键词： 非均匀介质   电阻率   成像   数值模拟   有限元法   探测深度  

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