用电子散斑干涉法进行结构内部微小缺陷检测的研究

用电子散斑干涉法进行结构内部微小缺陷检测的研究

本文应用电子散斑干涉法和相移技术对结构内部缺陷测试进行了试验研究,研究中采用气压加载,获得了相同气压载荷作用下不同试件的变形图,由此计算得到的结果表明,有缺陷的试件和无缺陷的试件在相同的气压载荷作用下变形不同,同时,相同载荷作用下,缺陷尺寸不同时,试件的变形不同.该试验证明了电子散斑干涉法在研究结构内部缺陷在气压载荷作用下的微小变形的有效性,进一步对缺陷影响的定量研究将为预知缺陷的尺寸及位置,结构的安全和检测提供帮助,同时将该方法应用进一步的推广和改进,将为结构无损检测提供依据.

作 者： 杨国标 吴愧 章彰 陆鹏 YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang LU Peng   作者单位： 杨国标,吴愧,章彰,YANG Guo-biao,WU Kui,ZHANG Zhang(同济大学,航空航天与力学学院,上海,200092)

陆鹏,LU Peng(中船重工711研究所,上海,200433) 

刊 名： 力学季刊  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE QUARTERLY OF MECHANICS  年，卷(期)： 2008 29(3)  分类号： O348.11  关键词： 电子散斑干涉   气体压力   微小变形   缺陷检测   相移技术  

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