稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率

稳态卡计法测量材料在不同温度条件下半球发射率

通过合理设计,组装了一台稳态卡计法热辐射测量仪,它可以测量材料在173～373 K温度范围内的半球热辐,射率.本文对该装置进行了详细介绍和误差分析,并报道了多种卫星温度控制用热辐射材料和一种新型热致变色材料(thermochromic material)的半球总发射率测量结果.

作 者： 唐根初 于云 李莹 曹韫真 TANG Gen-chu YU Yun LI Ying CAO Wen-zhen   作者单位： 中国科学院上海硅酸盐研究所,上海,200050  刊 名： 低温物理学报  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LOW TEMPERATURE PHYSICS  年，卷(期)： 2008 30(3)  分类号： O51  关键词： 发射率   稳态卡计法   涂层  

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