用两个次序统计量确定Weibull分布形状参数的置信下限

用两个次序统计量确定Weibull分布形状参数的置信下限

从两个次序统计量出发,给出了二参数Weibull分布的形状参数的置信下限.在实际数据的缺失、删失、截尾等情况下,为可靠性试验的数据处理提供了一种有效的估计方法.

作 者： 刘玉霜 LIU Yu-shuang   作者单位： 青岛科技大学,青岛,266061  刊 名： 科学技术与工程  ISTIC 英文刊名： SCIENCE TECHNOLOGY AND ENGINEERING  年，卷(期)： 2009 9(20)  分类号： O213.2  关键词： 两参数Weibull分布   次序统计量   参数估计  

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