高岭石声化学插层的XRD研究

高岭石声化学插层的XRD研究

以乙二醇、二甲基甲酰胺、二甲基亚砜及双氧水/冰醋酸等为插层剂,采用声化学法对高岭石进行了插层研究,考察了插层剂种类对高岭石插层率的影响.在此基础上,重点研究了以二甲基亚砜作为插层剂的情况下超声波功率、插层时间及插层剂的质量分数等工艺因素对插层率的影响,并采用XRD分析方法测试了高岭石的插层效率.结果表明:二甲基亚砜作为插层剂时插层率最高,插层率可达100%,二甲基甲酰胺和乙二醇次之,双氧水/冰醋酸插层率最低,插层率仅为14.9%.以二甲基亚砜为插层剂时,随着超声功率的增大,插层率先升高后降低;随着插层时间的延长,插层率呈增长趋势,而二甲基亚砜的质量分数对插层率的影响不大.在二甲基亚砜质量分数为75%、超声功率为300 W、插层时间为2 h的条件下,插层率达到100%,高岭石层间距从0.71 nm被有效增大到1.10 nm.

作 者： 王新震 黄剑锋 曹丽云 WANG Xin-zhen HUANG Jian-feng CAO Li-yun   作者单位： 王新震,黄剑锋,WANG Xin-zhen,HUANG Jian-feng(浙江省温州轻工研究院,浙江,温州,325003;陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西,西安,710021)

曹丽云,CAO Li-yun(陕西科技大学材料科学与工程学院,陕西,西安,710021) 

刊 名： 陕西科技大学学报（自然科学版）  ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SHAANXI UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY(NATURAL SCIENCE EDITION)  年，卷(期)： 2009 27(6)  分类号： O741+.4  关键词： 高岭石   声化学法   插层  

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