北京谱仪(BESⅡ)上p和(p-)鉴别的研究

北京谱仪(BESⅡ)上p和(p-)鉴别的研究

以北京谱仪(BES)上常用的3种粒子鉴别方法为基础,充分利用BESⅡ所获取的R值扫描、J/ψ和ψ'数据中p,(p-)以及其他带电粒子样本,对动量范围在0.3-1.2GeV的p和p-鉴别方法进行分析研究.找到BES Ⅱ上p和(p-)的最佳鉴别方法:动量低于0.6GeV只用dE/dx实现粒子鉴别,动量高于0.6GeV可用TOF或联合鉴别的方法,并给出p,(p-)的鉴别效率以及本底的混入比例.

作 者： 李会红 刘峰 李金 苑长征 王至勇   作者单位： 李会红(华中师范大学粒子物理研究所,武汉,430079;中国科学院高能物理研究所,北京,100039)

刘峰(华中师范大学粒子物理研究所,武汉,430079)

李金,苑长征(中国科学院高能物理研究所,北京,100039)

王至勇(中国科学院高能物理研究所,北京,100039;中国高等科学技术中心,北京,100080) 

刊 名： 高能物理与核物理  ISTIC SCI PKU 英文刊名： HIGH ENERGY PHYSICS AND NUCLEAR PHYSICS  年，卷(期)： 2003 27(8)  分类号： O4  关键词： 北京谱仪Ⅱ   质子   反质子   粒子鉴别  

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