液晶盒厚度的反射光谱拟合法测量

液晶盒厚度的反射光谱拟合法测量

介绍了一种测量液晶盒厚度的新型光学方法--反射光谱拟合法.理论上,液晶盒的反射光谱呈正弦曲线,且曲线取极值时对应入射光波长大小值取决于所用液晶盒的厚度.反之亦然,当得知液晶空盒的反射光谱时,可以根据曲线取极值时入射光波长的值来获得待测液晶盒的厚度.软件用来搜索与实验测试数据相互吻合的液晶盒厚度.该技术以白光作为液晶盒的前端光源,且白光入射角为0°.结果表明,该方法测量范围5～30 μm,测量重复误差0.1 μm以下.实验中,光纤光谱仪用来测试反射光谱,并通过USB接口将其传输到计算机.该方法的优点是它可以在0.1 s内测试液晶盒表面任意点处的厚度,有较强的使用价值.

作 者： 康桂珍 黄子强 KANG Gui-zhen HUANG Zi-qiang   作者单位： 电子科技大学,光电信息学院,四川,成都,610054  刊 名： 液晶与显示  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS  年，卷(期)： 2007 22(4)  分类号： O753.2  关键词： 液晶盒   反射光谱   光谱拟合   LC cell   reflecting spectrum   optimal fitting  

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