数模/模数转换器和大容量存储器件γ射线辐射试验研究

数模/模数转换器和大容量存储器件γ射线辐射试验研究

构建了一个测试平台,在计算机和辅助测试模块的配合下,对信号处理模块经常用到的数模/模数转换器AD10465和AD9857以及大容量FLASH存储器、反熔丝PROM存储器进行了γ射线辐射试验,并以功能的正常性为测试标准对这些器件的抗辐射效应性能进行了评估.结果发现,AD10465和AD9857在总剂量为1.59kGy时仍然功能正常,FLASH存储器和反熔丝存储器分别在总剂量为0.13kGy和0.99kGy时出现错误.

作 者： 邢克飞 王跃科 潘华锋 XING Kefei WANG Yueke PAN Huafeng   作者单位： 邢克飞,王跃科,XING Kefei,WANG Yueke(国防科技大学机电工程与自动化学院323室,长沙,410073)

潘华锋,PAN Huafeng(上海航天电子有限公司,上海,201800) 

刊 名： 辐射研究与辐射工艺学报  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF RADIATION RESEARCH AND RADIATION PROCESSING  年，卷(期)： 2006 24(4)  分类号： V4  关键词： AD/DA转换器   存储器   60Coγ射线   总剂量   辐照效应  

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