美国光学特性测量技术发展情况及特点

美国光学特性测量技术发展情况及特点

简要介绍了美国地基、空基、天基光学特性测量技术的发展情况,对其在光学特性测量技术领域发展的特点给予了分析、总结.

作 者： 邢强林 谭谦 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia   作者单位： 北京跟踪与通信技术研究所·北京·100094  刊 名： 飞行器测控学报  ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 26(1)  分类号： V556.5  关键词： 光学特性测量   红外辐射特性测量   光谱特性测量  

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