遗忘症记忆障碍脑成像技术定位研究进展

遗忘症记忆障碍脑成像技术定位研究进展

1引言脑成像技术是指以计算机断层扫描(Computerized tomography,CT)、正电子发射断层扫描(Positron Emission Tomography,PET)和磁共振成像(Magnetic resonance imaging,MRI)三项无创伤显示人大脑结构的影像学技术.尽管这三项技术出现不过才20多年的历史,但它在基础研究和临床应用方面已显示出巨大潜力.近年来,一些研究者将这三项技术应用于记忆功能和遗忘症损伤定位研究,取得了一些重要进展,与传统病理学方法相比较,有其独特的优越性.为此,本文拟综述近年来有关应用CT和MRI对遗忘症记忆障碍进行定位研究的一些重要进展,并与传统神经病理学方法作一比较.

作 者： 王常生 蔡幼铨   作者单位： 王常生(北京大学心理系,100871)

蔡幼铨(解放军总医院MRI室,100853) 

刊 名： 心理科学  PKU CSSCI 英文刊名： PSYCHOLOGICAL SCIENCE  年，卷(期)： 2000 23(3)  分类号： B84  关键词：  

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