对瞬变电磁法回线边长决定探测深度的质疑

对瞬变电磁法回线边长决定探测深度的质疑

质疑瞬变电磁法探测深度取决于场源磁矩(M=IL2)的强度,当电源能量一定时,改变回线边长就成为控制探测深度的有效措施;认为"大回线有大深度"、"小回线探测浅"等共识是不正确的,它是不计条件应用深度公式的误导.研究认为:瞬变电磁法的探测深度取决于场源含有的低频成分,基频越低,探测越深;磁矩只是决定探测结果的信噪比.

作 者： 王庆乙 WANG Qing-yi   作者单位： 北京矿产地质研究院,北京,100012  刊 名： 物探与化探  ISTIC PKU 英文刊名： GEOPHYSICAL AND GEOCHEMICAL EXPLORATION  年，卷(期)： 2007 31(4)  分类号： P631  关键词： 探测深度   回线边长   场源频率   磁矩  

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