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电荷屏蔽与恒星内部β衰变
针对低能反应和Gamow-Te11er共振跃迁,分析了在恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响,对共振跃迁的分析是基于核的壳层模型.作为例子,详细计算了电荷屏蔽对56Cr的β衰变的影响.结果表明:在较低温度和高密度下,电荷屏蔽使β衰变率有明显地增加.这对恒星晚期演化和超新星爆发研究可能会有重要的影响.
作 者： 孙庆强 黄增光 朴红光 罗志全 SUN Qing-qiang HUANG Zeng-guang PIAO Hong-guang LUO Zhi-quan 作者单位： 孙庆强,黄增光,朴红光,SUN Qing-qiang,HUANG Zeng-guang,PIAO Hong-guang(淮海工学院数理科学系,连云港,222005)罗志全,LUO Zhi-quan(西华师范大学物理与电子信息学院,南充,637002)
刊 名： 天文学报 ISTIC PKU 英文刊名： ACTA ASTRONOMICA SINICA 年，卷(期)： 2007 48(1) 分类号： P148 关键词： 基本粒子 中微子 核合成 恒星演化【电荷屏蔽与恒星内部β衰变】相关文章：
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