近距离DPIV粒子成像分析

近距离DPIV粒子成像分析

在PIV(Particle Image Velocimetry)近距离拍摄中,通过对在非傍轴成像条件下薄透镜成像公式的推导,求得粒子图像成像点的近似解析解,对粒子图像的成像位置在PIV图像计算中的影响作了讨论;同时也对已知直径粒子进行了试验拍摄,将试验所得的数据与理论推导的结果进行了比较,对在近距离拍摄中光圈对粒子成像的影响给出了定量分析.

作 者： 魏润杰 申功 丁汉泉   作者单位： 魏润杰,申功(北京航空航天大学飞行器设计与应用力学系)

丁汉泉(北京航空航天大学理学院) 

刊 名： 北京航空航天大学学报  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS  年，卷(期)： 2001 27(6)  分类号： P234.1  关键词： 相对孔径   近景摄影   成像   粒子图像测速  

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