叠前深度偏移及其配套技术分析

叠前深度偏移及其配套技术分析

本文综述了叠前深度偏移的发展历程,就Kirchhoff积分法、波动方程法、共聚焦技术,概述了其中常用方法的发展历程、优点与不足乃至实现方法的关键技术问题.当前成像研究的热点——保幅偏移也有所涉及.此外,还简述了叠前深度偏移的配套技术:速度分析、基准面校正、验证模型等.

作 者： 梁栋 唐小彪   作者单位： 成都理工大学信息工程学院  刊 名： 科技信息  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY INFORMATION  年，卷(期)： 2009 ""(24)  分类号：   关键词： 叠前深度偏移   基准面校正   波动方程   速度分析  

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