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PCS中基线值对累积法反演结果的影响分析
针对光强自相关函数与归一化光场自相关函数之间的关系,指出基线值的不同会影响到颗粒粒径和分散度的测量结果.分析了纳米颗粒尺寸和分散度测定的光子相关光谱技术中的累积算法.利用光子相关光谱技术对三种不同材料共五种尺寸的颗粒进行了测试分析,结果显示:测量基线方法不同,对应的基线值会不同,利用累积法反演得到的颗粒粒径和分散度的结果也会不同.从理论上分析了反演结果不同的原因.本文确认了自动斜率法是较恰当的确定基线的方法.
作 者： 刘桂强 杨冠玲 周述苍 曾思明 韩鹏 LIU Gui-qiang YANG Guan-ling ZHOU Shu-cang ZENG Si-ming HAN Peng 作者单位： 华南师范大学,物理与电信工程学院,广州,510006 刊 名： 光电工程 ISTIC PKU 英文刊名： OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING 年，卷(期)： 2008 35(3) 分类号： O432.2 关键词： 光子相关光谱法 纳米颗粒测量 累积法 有效直径 分散度【PCS中基线值对累积法反演结果的影响分析】相关文章：
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