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WSiOx介孔分子筛的合成与表征
以阳离子表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)作为模板剂,正硅酸乙酯(TEOS)作为硅源,在强碱性条件下,加入过渡金属氧化物偏钨酸铵合成得到WSiOx介孔分子筛,使用乙酰丙酮作为助剂,考察其对孔结构的影响,通过X射线衍射仪(XRD)、N2吸附-脱附、原位红外(FT-IR)、扫描电镜(SEM)表征手段对合成出的WSiOx上分子筛的结构性能进行研究.随着W质量分数的增加,介孔特征衍射峰的有序度增加,质量分数大于6%后有序度下降;W的加入没有破坏介孔分子筛的骨架结构.最后的结果得到,最佳W质量分数为5%,模板剂质量分数为1.8%,乙酰丙酮质量分数为9%.平均孔径为4.68 nm,比表面积为966 m2/g.
作 者： 姚丽珠 田彦文 YAO Li-zhu TIAN Yan-wen 作者单位： 姚丽珠,YAO Li-zhu(东北大学,材料与冶金学院,辽宁,沈阳,110004;辽宁石油化工大学,石油化工学院,辽宁,抚顺113001)田彦文,TIAN Yan-wen(东北大学,材料与冶金学院,辽宁,沈阳,110004)
刊 名： 化工科技 ISTIC 英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY IN CHEMICAL INDUSTRY 年，卷(期)： 2009 17(6) 分类号： O643.36 关键词： 原位 过渡金属 WSiOx介孔分子筛【WSiOx介孔分子筛的合成与表征】相关文章：
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