借助光栅测谱中高级次谱判断强激光场作用时的有效功率密度

借助光栅测谱中高级次谱判断强激光场作用时的有效功率密度

借助在X光波段高次谐波辐射谱测量过程中,根据单色仪光栅分光的作用,产生的23级次(34.56 nm)谐波谱的二级次谱(69.13 nm)的出现与否,判断了实验获得高次谐波谱的截止波长;从而根据高次谐波的理论,判断了强激光场与物质相互作用时,激励产生X光谱的有效功率密度为1.007×1014 W/cm2,此时获得最大光子能量为32.817 eV.它的准确判断和测量是研究实验获得谱线的来源和强度的基础数据.

作 者： 陈建新 王骐 夏元钦   作者单位： 哈尔滨工业大学光电子技术研究所,可调谐激光技术国家级重点实验室,黑龙江,哈尔滨,150001  刊 名： 中国激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LASERS  年，卷(期)： 2003 30(3)  分类号： O437.1  关键词： 激光物理   光栅分光   高级次谱   测试系统  

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