波片位相延迟测量的双λ/4波片法

波片位相延迟测量的双λ/4波片法

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差,为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量替代对光强的直接测量.实验结果表明,该系统可有效避免光源强度起伏对测量结果的影响,测量精度可达0.5°.与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点,是一种便捷有效的测量方法.

作 者： 王兰 李国华 孔超 贾朋 WANG Lan LI Guo-hua KONG Chao JIA Peng   作者单位： 曲阜师范大学,激光研究所,曲阜,273165  刊 名： 激光技术  ISTIC PKU 英文刊名： LASER TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 31(6)  分类号： O432.2  关键词： 激光技术   偏振光   波片   位相延迟  

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