等离子体X射线吸收谱及发射谱研究

等离子体X射线吸收谱及发射谱研究

报道了计算高温高密等离子体吸收谱和发射谱(光学薄)的理论方法;该方法基于相对论原子理论,可以计算任何单元素以及多元素等离子体的谱分辨X射线吸收谱和发射谱光学薄;应用量子亏损理论可以减少计算量.利用该方法计算金等离子体LTE吸收谱,计算结果与实验符合良好.对金等离子体LTE的光学薄发射谱进行了研究,这将有利于对实验进行进一步的诊断分析.该理论计算方法可提供等离子体内各电离度能级布居等重要物理参数.因此经"标准实验"检验的该理论计算方法将是提供ICF"精密"物理辐射参数的重要基础.

作 者： 彭永伦 杨莉 王民盛 李家明   作者单位： 彭永伦,杨莉,王民盛(清华大学,物理系及原子分子纳米科学中,心,北京,100084)

李家明(清华大学,物理系及原子分子纳米科学中,心,北京,100084中国科学院,物理研究所,北京,100080) 

刊 名： 强激光与粒子束  ISTIC EI PKU 英文刊名： HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS  年，卷(期)： 2002 14(3)  分类号： O434.13  关键词： X射线   等离子体   吸收谱   发射谱  

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