反射吸收红外光谱法研究铝表面硅烷试剂膜的结构与性能

反射吸收红外光谱法研究铝表面硅烷试剂膜的结构与性能

采用反射吸收红外光谱法(RA-IR)研究了铝金属表面涂覆乙烯基三乙氧基硅烷(VS)、环氧基三乙氧基硅烷(GS)和γ-氨丙基三乙氧基硅烷(γ-APS)溶液成膜后结构及膜与金属表面之间结合状态,比较并探讨了不同处理工艺条件下硅烷溶液在金属铝材上成膜后膜的特性,以指导硅烷用作金属表面处理新技术的优化和实用化处理过程.

作 者： 徐溢 唐守渊 陈立军   作者单位： 重庆大学化学化工学院,重庆,400044  刊 名： 分析化学  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY  年，卷(期)： 2002 30(4)  分类号： O65  关键词： 反射吸收红外光谱   硅烷膜   铝  

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